檢測(cè)限的計(jì)算方法
儀器校驗(yàn)雖然全國(guó)自然科學(xué)名詞審定委員會(huì)公計(jì)量?jī)x器校正布的《化學(xué)名詞》中并未規(guī)定“檢測(cè)限（detectability）”一詞，但實(shí)際上該詞也在廣泛的應(yīng)用。1997年通過(guò)的《分析術(shù)語(yǔ)綱要》沒(méi)有單獨(dú)定義“detectability”，但有“minimum detectability”（9.2.4.4），其定義為流動(dòng)相中樣品組分在檢測(cè)器上產(chǎn)生兩倍基線噪聲信號(hào)時(shí)相當(dāng)?shù)臐舛然蛸|(zhì)量流量。

 

（2）式中D為小檢測(cè)限；N為噪聲；S為靈敏度。此定義與文獻(xiàn)中“檢測(cè)限”、文獻(xiàn)[29]中“檢測(cè)器檢測(cè)限”的定義幾乎完全相同，計(jì)量?jī)x器檢測(cè)可視作同一概念。

 

而比較式（1）、式（2）可知，式（1）中k=2時(shí)即得到式（2），可見(jiàn)，IUPAC規(guī)定的“minimum detectability”實(shí)際上是“檢出限”的另外一種提法。

 

計(jì)算方法

 

儀器校驗(yàn)國(guó)際純粹與應(yīng)用化學(xué)聯(lián)合會(huì)(IUPAC)對(duì)檢出限（LOD）作如下規(guī)定：

 

“檢出限以濃度（或質(zhì)量）表示，是指由特定的分析步驟能夠合理地檢測(cè)出的小分析信號(hào)xL求得的低濃度cL（或質(zhì)量 qL）”。

 

儀器計(jì)量表達(dá)式：# c_{L}（或q_{L}）=（X_{L}-\bar{X}_)/m=KS_/m # -----上述為源代碼

 

式中：

 

Xb平均：空白多次測(cè)得信號(hào)的平均值；

 

m：分析校準(zhǔn)曲線在低濃度的斜率

 

SD：空白多次測(cè)得信號(hào)的標(biāo)準(zhǔn)偏差；

 

K：根據(jù)一定置信水平確定的系數(shù)，為了評(píng)估xb和Sb，實(shí)驗(yàn)次數(shù)必須至少20次。

 

1975年，IUPAC建議對(duì)光譜化學(xué)分析法取K=3。儀器校準(zhǔn)由于低濃度水平的測(cè)量誤差可能不遵從正態(tài)分布，且空白的測(cè)定次數(shù)有限，因而與K=3相應(yīng)的置信水平大約為90%。